標(biāo)題：貴金屬鍍層膜厚儀
產(chǎn)品概述
在現(xiàn)代工業(yè)中，鍍層膜厚儀已成為一種精密測(cè)量工具。它廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域，如半導(dǎo)體、高分子材料薄膜、汽車玻璃、光學(xué)鍍膜測(cè)量等，為各個(gè)行業(yè)提供了準(zhǔn)確可靠的膜厚測(cè)量數(shù)據(jù)。本文將詳細(xì)介紹鍍層膜厚儀的工作原理、使用方法以及其在各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用。
一、產(chǎn)品概述
產(chǎn)品類型：能量色散X熒光光譜分析設(shè)備
產(chǎn)品名稱：鍍層厚度測(cè)試儀
型 號(hào)：iEDX-150T
生 產(chǎn) 商：韓國(guó)ISP公司
| 工作條件 |
| ●工作溫度：15-30℃ | ●電源：AC: 110/220VAC 50-60Hz |
| ●相對(duì)濕度：<70%，無(wú)結(jié)露 | ●功率：150W + 550W |
產(chǎn)品圖片：
鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測(cè)試iEDX-150T
二、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)及特征
鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測(cè)試
(一)產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
鍍層檢測(cè)，多鍍層檢測(cè)可達(dá)5層，精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內(nèi)。
儀器尺寸：618*525*490mm，樣品臺(tái)移動(dòng)距離：160*150*90mm。
激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。
可檢測(cè)固體、粉末狀態(tài)材料。
運(yùn)行及維護(hù)成本低、無(wú)易損易耗品，對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低。
可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無(wú)標(biāo)樣定性，半定量分析。
操作簡(jiǎn)單、易學(xué)易懂、**無(wú)損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測(cè)結(jié)果。
可針對(duì)客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
軟件*升級(jí)。
無(wú)損檢測(cè)，一次性購(gòu)買標(biāo)樣可**使用。
使用安心無(wú)憂，售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間24H以內(nèi)，提供***保姆式服務(wù)。
可以遠(yuǎn)程操作，解決客戶使用中的后顧之憂。
可進(jìn)行RoHS檢測(cè)(選配功能)，測(cè)試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測(cè)試無(wú)鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對(duì)成分進(jìn)行分析。
(二)產(chǎn)品特征
高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
計(jì)算機(jī) / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計(jì)算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)。
Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)(FP)軟件，通過(guò)簡(jiǎn)單的三步進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣標(biāo)定，使用基礎(chǔ)參數(shù)計(jì)算方法，對(duì)樣品進(jìn)行**的鍍層厚度分析，可以增加RoHS檢測(cè)功能。
MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析
勵(lì)磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測(cè)量
相對(duì)(比)模式 無(wú)焦點(diǎn)測(cè)量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時(shí)測(cè)量
單鍍層應(yīng)用 [如：Cu/ABS等]
雙鍍層應(yīng)用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應(yīng)用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應(yīng)用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應(yīng) [如：Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
Smart-Ray. 快速、簡(jiǎn)單的定性分析的軟件模塊?？赏瑫r(shí)分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運(yùn)算和配給。
Smart-Ray. 金屬行業(yè)**定量分析軟件。可一次性分析25種元素。小二乘法計(jì)算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計(jì)算方法進(jìn)行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達(dá)+ /-0.02%，貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達(dá)+ /-0.05kt
Smart-Ray。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊。
Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)
完整的統(tǒng)計(jì)函數(shù)均值、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù)，趨勢(shì)線，Cp 和 Cpk 因素等
自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動(dòng)樣品測(cè)量。大測(cè)量點(diǎn)數(shù)量 = 每9999 每個(gè)階段文件。每個(gè)階段的文件有多 25 個(gè)不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個(gè)階段文件包含*統(tǒng)計(jì)軟件包。包括自動(dòng)對(duì)焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。
三、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說(shuō)明
| u 測(cè)量原理：能量色散X射線分析 | u 樣品類型：固體/粉末 |
| u X射線光管：50KV，1mA | u過(guò)濾器：5過(guò)濾器自動(dòng)轉(zhuǎn)換 |
| u檢測(cè)系統(tǒng)：SDD探測(cè)器（或Si-Pin） | u能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV） |
| u檢測(cè)元素范圍：Al (13) ~ U(92) | u準(zhǔn)直器孔徑：0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
| u應(yīng)用程序語(yǔ)言：韓／英／中 | u分析方法：FP/校準(zhǔn)曲線，吸收，熒光 |
| u儀器尺寸：618*525*490mm | u樣品臺(tái)移動(dòng)距離（自動(dòng)臺(tái)）：160*150*90mm |
| u樣品臺(tái)尺寸：250*225mm | |
X射線管：高穩(wěn)定性X光光管，使用壽命(工作時(shí)間>18,000小時(shí))
微焦點(diǎn)X射線管、Mo (鉬) 靶鈹窗口， 陽(yáng)極焦斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。
50kV，1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供**性能。
探測(cè)器：SDD 探測(cè)器(可選Si-Pin)
能量分辨率：125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
濾光片/可選
初級(jí)濾光片：Al濾光片，自動(dòng)切換
7個(gè)準(zhǔn)直器：客戶可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
平臺(tái)：軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動(dòng)X-Y軸移動(dòng)大樣品平臺(tái)。
激光定位、簡(jiǎn)易荷載大負(fù)載量為5公斤
軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動(dòng)測(cè)量
樣品定位：顯示屏上顯示樣品鎖定、簡(jiǎn)易荷載、激光定位及拍照功能
6. 分析譜線：
- 2048通道逐次近似計(jì)算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)
- 基點(diǎn)改正(基線本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測(cè)量讀數(shù)自動(dòng)顯示
7.視頻系統(tǒng)：高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
- 觀察范圍：3mm x 3mm
- 放大倍數(shù)：40X
- 照明方法：上照式 鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測(cè)試
- 軟件控制取得高真圖像
8. 計(jì)算機(jī)、打印機(jī)(贈(zèng)送)
含計(jì)算機(jī)、顯示器、打印機(jī)、鍵盤(pán)、鼠標(biāo)
含Win 7/Win 10系統(tǒng)。
Multi-Ray鍍層分析軟件
注：設(shè)備需要配備穩(wěn)壓器，需另計(jì)。
鍍層膜厚儀、貴金屬電鍍層厚度測(cè)試
產(chǎn)品分類
產(chǎn)品型號(hào)：iEDX-150T
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